激光粒度儀是通過(guò)顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來(lái)分析顆粒大小的儀器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理論，測(cè)試過(guò)程不受溫度變化、介質(zhì)黏度，試樣密度及表面狀態(tài)等諸多因素的影響，只要將待測(cè)樣品均勻地展現(xiàn)于激光束中，即可獲得準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。 選購(gòu)激光粒度儀需要考慮的四個(gè)問(wèn)題。小編為大家介紹一下關(guān)于選購(gòu)激光粒度儀的四個(gè)重要問(wèn)題。
第一、激光器選擇：激光粒度儀的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半導(dǎo)體激光器兩種，其中HE-NE激光器的各項(xiàng)性能均優(yōu)于半導(dǎo)體激光器，且成本也遠(yuǎn)高于半導(dǎo)體激光器，半導(dǎo)體激光器單向性差的問(wèn)題，對(duì)測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性影響很大。
第二、光電探測(cè)器：國(guó)內(nèi)產(chǎn)品采用的光電探測(cè)器的種類大同小異，一般就是半環(huán)式、點(diǎn)陣式等，半環(huán)式的優(yōu)勢(shì)是能夠以較少的通道數(shù)達(dá)到很高的探測(cè)精度。而且在出現(xiàn)斷環(huán)時(shí)可以臨時(shí)采取并環(huán)操作，對(duì)測(cè)試結(jié)果影響很小。點(diǎn)陣式屬于比較老的探測(cè)器類型，現(xiàn)在用的比較少。
第三、儀器結(jié)構(gòu)問(wèn)題：主要分為整體式和分體式，整體式就是將分散系統(tǒng)和測(cè)試系統(tǒng)整合為一體，協(xié)同操作，分體式則是分散系統(tǒng)獨(dú)立于測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試者需要先操作分散系統(tǒng)，將樣品分散好再將分散好的樣品通過(guò)管道導(dǎo)入測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。
這樣的缺點(diǎn)是協(xié)同操作性不好，比較重的顆粒容易在管道中沉淀，清洗不便且對(duì)測(cè)試結(jié)果有一定影響，現(xiàn)在整體式結(jié)構(gòu)的儀器是發(fā)展方向，進(jìn)口產(chǎn)品大都采用整體式結(jié)構(gòu)，國(guó)內(nèi)的產(chǎn)品也慢慢在向整體式結(jié)構(gòu)發(fā)展。
第四、光路設(shè)計(jì)問(wèn)題：光路設(shè)計(jì)是激光粒度儀研制的基礎(chǔ)，進(jìn)口產(chǎn)品的優(yōu)勢(shì)不但在制造工藝上，光路的設(shè)計(jì)水平也是技術(shù)先進(jìn)的標(biāo)志，國(guó)內(nèi)的廠家現(xiàn)在大都采用簡(jiǎn)單的平行光路設(shè)計(jì)，我們公司推出的激光粒度儀產(chǎn)品中采用了傅立葉變換光路。這種光路是一種比較先進(jìn)的光路，能夠獲得更寬的散射角，在提高測(cè)試精度方面有一定的優(yōu)勢(shì)。
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